Fluke 419D 雷射測距儀

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產品概述: Fluke 419D 雷射測距儀

新型 Fluke 419D 專業級雷射測距儀的測距更長,達 80 米(260 英呎)且精度更高。通過增強的功能,如儲存 20 筆完整顯示記錄以及可進行穩定、長距離測量的三腳架模式,該雷射測距儀可節省時間並減少誤差。

規格: Fluke 419D 雷射測距儀

測量距離 傾斜測量 一般
 414D419D424D
典型測量公差[1]± 2.0 mm [3]± 1.0 mm [3]
最大測量公差[2]± 3.0 mm [3]± 2.0 mm [3]
在 Leica 目標板 GZM26 的範圍50 m (165 ft)80 m (260 ft)100 m (330 ft)
典型距離[1]40 m (130 ft)80 m  (260 ft)80 m (260 ft)
不利條件下的範圍[4]35 m (115 ft)60 m (195 ft)60 m (195 ft)
顯示的最小單位1 mm (1/16 in)6 /30 / 60 mm
(10 / 50 / 100 m)
∅ 下列距離的雷射點6 /30 / 60 mm
(10 / 50 / 100 m)
6 /30 / 60 mm
(10 / 50 / 100 m)
雷射光束的測量公差[5]± 0.2°
外殼的測量公差[5]± 0.2°
範圍360°
雷射等級2
雷射類型635 nm,<1 mW
保護等級IP40IP54
自動關閉雷射90 秒後
自動關閉電源180 秒後
電池壽命 (2 x AAA) 1.5 V NEDA 24A/IEC LR03多達 3,000
筆測量
多達 5,000
筆測量
尺寸 (高 x 寬 x 長)116mm 長度 
53mm 寬度 
33mm 深度
127mm 長度 
56mm 寬度 
33mm 深度
127mm 長度 
56mm 寬度 
33mm 深度
重量 (含電池)113 g153 g158 g
溫度範圍:儲存操作-25 °C 至 +70°C
(-13 °F 至 +158 °F)

0 °C 至 +40 °C
(32 °F 至 +104 °F)
-25 °C 至 +70°C
(-13 °F 至 +158 °F)

-10 °C 至 +50 °C
(14 °F 至 +122 °F)
校正週期不適用不適用傾斜與羅盤
最大高度3000 m3000 m3000 m
最大相對濕度20 °F 至 120°F
(-7 °C 至 50 °C) 時為 85%
20 °F 至 120°F
(-7 °C 至 50 °C) 時為 85%
20 °F 至 120°F
(-7 °C 至 50 °C) 時為 85%
安全性IEC 標準編號61010-1:2001
EN60825-1:2007 (Class II)
EMCEN 55022:2010
EN 61000-4-3:2010
EN 61000-4-8:2010
[1] 適用於 100 % 目標反射性 (漆為白色的牆面)、低背景照明、25 °C。
[2] 適用於 10 至 500 % 目標反射性、高背景照明、-10 °C 至 +50 °C。
[3] 公差適用於從 0.05 m 至 10 m,信賴水準為 95 %。在 10 m 至 30 m 的距離之間,最大公差可能劣化為 0.1 mm/m;30 m 以上的距離則可能劣化為 0.15 mm/m。
[4] 適用於 100 % 目標反射性、背景照明介於 10,000 lux 和 30,000 lux 之間。
[5] 在使用者校正後。每度的額外角度相關偏差為 ±0.01°,每一象限最高為 ±45°。適用於室溫。若為整個操作溫度範圍,最大偏差則增加 ±0.1°。

機型: Fluke 419D 雷射測距儀

Fluke 419D

雷射測距儀


包括:

  • 419D 雷射測距儀
  • 兩顆 AAA 電池
  • 使用手冊光碟
  • 快速參考手冊
  • 攜帶包
  • 掛繩
  • 三年售後保固